1993年，F(xiàn)ischer和Pschunder發(fā)現(xiàn)在摻硼P型CZ－Si的電池在光照條件下，會發(fā)生效率衰退，其衰減為總效率的2-3%左右，並將定義為光致衰減現(xiàn)象（LID）。LID衰減速度很快，在幾天內(nèi)就可以達到飽和，其產(chǎn)生機制主要是矽材料內(nèi)的硼氧(B-O)缺陷對。
2012 年，有國外研究發(fā)現(xiàn)，PERC多晶矽太陽電池中除存在光致衰減(LID) 之外，還存在“熱輔助光誘導(dǎo)衰減”（Light elevatedTemperature Induce Degradation，LeTID）， LeTID 現(xiàn)象會隨著環(huán)境溫度的升高而加強，與傳統(tǒng)LID 現(xiàn)象的特性有所不同。
2017年，國際上一些研究單位開展了進一步的研究，一個比較重要的發(fā)現(xiàn)是PERC 單晶矽太陽電池同樣也存在 LeTID 現(xiàn)象。Q-Cell 公司在2017 年報道了其 PERC 單晶矽太陽電池的LeTID 結(jié)果，雖然該電池使用常規(guī)的 B-O 對穩(wěn)定工藝可在 25 ℃時使電池的衰減趨於穩(wěn)定，但是在 75 ℃時其光致衰減仍會明顯增加。
LID與LeTID兩者區(qū)別：
中國可再生能源學(xué)會光伏專業(yè)委員會在《2018 年中國光伏技術(shù)發(fā)展報告》（5）對LID和LeTID的區(qū)別進行了總結(jié)。具體如下：
LeTID功率衰減：
2019年9月，F(xiàn)raunhofer 實驗室MatthiasPander團隊公開發(fā)表了《Prediction of potential power/field lossfrom LeTID susceptible modules》，論文對LeTID組件的功率衰減進行了詳細的研究，如下圖為經(jīng)過690h測試後的單晶PERC組件EL照片，組件內(nèi)部的電池亮度均勻性變差，部分電池已經(jīng)呈現(xiàn)性能衰減。
在實驗室環(huán)境下，高溫度和強輻射會大大加速功率衰減，因此衰減速度與地理位置密切相關(guān)。高溫通常定義在50℃以上，文中對LeTID敏感組件的測試地理環(huán)境分成3等級，中性moderate (一年環(huán)境溫度約1 % 的時段在 50 °C以上)、溫暖warm (一年環(huán)境溫度約5% 的時段在50 °C以上)和炎熱 hot (一年環(huán)境溫度約15% 的時段在 50 °C以上)。
結(jié)果如圖所示，在炎熱地帶，年發(fā)電損失約達到5%，當(dāng)達到最大衰減以後，第7年以後組件在熱輔助的作用下開始功率恢復(fù)，但是恢復(fù)的程度有限，需要花費的時間也很長，如圖則需要10年以上。在溫暖地區(qū)，第5年功率衰減達到4%左右。在中性氣候地區(qū)，影響較小。
另外Friederike Kersten在論文《System performance loss due to LeTID》公開報導(dǎo)戶外測試結(jié)果，安裝場地位於賽普洛斯，氣候較為溫暖，使用多晶PERC電池組件，運行三年以後的最大衰減為7%左右。
由於LeTID組件容易受環(huán)境溫度影響，因此對於光伏電站建設(shè)，需要根據(jù)當(dāng)?shù)氐臍夂颦h(huán)境進行選型，對於炎熱地區(qū)，最好使用具有第三方認(rèn)證的抗LeTID組件。
http://guangfu.bjx.com.cn/news/20191113/1020672.shtml 來源:坎德拉學(xué)院
